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產(chǎn)品名稱：阻抗分析儀IM7580
產(chǎn)品型號：IM7580
產(chǎn)品廠商：日本日置
產(chǎn)品文檔：

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簡單介紹：

阻抗分析儀IM7580介紹： IM7580高可測300MHz的高頻，是能應(yīng)對高頻化發(fā)展的電子元器件的產(chǎn)品。通過IM7580快0.5ms（0.0005秒）的高速測量速度，可以更快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產(chǎn)效率。

詳情介紹：

阻抗分析儀IM7580介紹：

HIOKI推出阻抗分析儀IM7580。IM7580高可測300MHz的高頻，是能應(yīng)對高頻化發(fā)展的電子元器件的產(chǎn)品。通過IM7580快0.5ms（0.0005秒）的高速測量速度，可以更快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產(chǎn)效率。

阻抗分析儀IM7580主要特點：

300MHz世界快、通過高速測量和高反復(fù)精度縮短工時、加速生產(chǎn)

測量頻率1MHz~300MHz
測量時間：快0.5ms
基本精度±0.72%rdg.
緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580專用的測試治具。

阻抗分析儀IM7580技術(shù)參數(shù)：

測量模式	LCR（LCR測量），分析（掃頻測量），連續(xù)測量
測量參數(shù)	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍	100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
測量頻率	1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進)
測量信號電平	功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms
輸出阻抗	50 Ω (10 MHz時)
顯示	彩色TFT8.4英寸、觸屏
測量時間	快0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值
功能	接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲功能、等效電路分析、相關(guān)補償
接口	EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量	主機: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 測試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件	電源線 ×1, 測試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說明書 ×1, CD-R (通訊使用說明書) ×1

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產(chǎn)品名稱：阻抗分析儀IM7580